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  • 更新日期:2019-01-02 15:49:02
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详细介绍
本文研究了无线充电RX端用低损耗镍锌铁氧体新材料以及磁片,并与传统的无线充电RX端镍锌铁氧体材料以及磁片做性能对比。要求新材料所制作的无线充电RX端铁氧体磁片磁导率μi在100KHz下为750,磁导率(虚部)μ"<10,在50KHz&150mT下,体积功耗Pcv <200mW/cm3,充电效率η>85%,微观结构致密,晶粒细小均一。
 
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